Юстировщик деталей и приборов
2-й разряд.
Характеристика работ:
юстировка радиодеталей до номинала методом шлифования (грубое шлифование) токопроводящего слоя;
определение величина сопротивления (резисторы) и емкости (конденсаторы) по показаниям контрольно-измерительных приборов;
правка выводов после шлифования
юстировка радиодеталей до номинала методом шлифования (грубое шлифование) токопроводящего слоя;
определение величина сопротивления (резисторы) и емкости (конденсаторы) по показаниям контрольно-измерительных приборов;
правка выводов после шлифования
Должен знать:
наименование и назначение важнейших частей и принцип действия станков для подгонки номиналов радиодеталей;
назначение и условия применения контрольно-измерительных инструментов и приборов;
методику получения заданного номинала в зависимости от исходных величин омического сопротивления, емкости;
основные свойства керамики и токопроводящих слоев
наименование и назначение важнейших частей и принцип действия станков для подгонки номиналов радиодеталей;
назначение и условия применения контрольно-измерительных инструментов и приборов;
методику получения заданного номинала в зависимости от исходных величин омического сопротивления, емкости;
основные свойства керамики и токопроводящих слоев
Примеры работ:
1) конденсаторы керамические - подгонка емкости на станке до заданного номинала с отклонением величины емкости ±5-10%;
2) пакеты или заготовки конденсаторов различных типов с серебросодержащими электродами - подгонка емкости;
3) пьезоэлементы толщиной 1 мм - подгонка с использованием подгоночных машин; измерение частоты;
4) резисторы постоянные и переменные - подгонка на станках до заданного номинала с отклонениями ±10-20 %
1) конденсаторы керамические - подгонка емкости на станке до заданного номинала с отклонением величины емкости ±5-10%;
2) пакеты или заготовки конденсаторов различных типов с серебросодержащими электродами - подгонка емкости;
3) пьезоэлементы толщиной 1 мм - подгонка с использованием подгоночных машин; измерение частоты;
4) резисторы постоянные и переменные - подгонка на станках до заданного номинала с отклонениями ±10-20 %
Примечание:
3-й разряд.
Характеристика работ:
юстировка сопротивлений до номинала с точностью ±5-2% с помощью луча оптического квантового генератора;
подгонка в заданный номинал сложных малогабаритных резисторов с лужением и пайкой концов провода диаметром 0,02-0,03 мм и прецизионных конденсаторов;
подгонка номинала переменных объемных резисторов, керамических конденсаторов постоянной емкости методом шлифования (тонкое шлифование) и полирования;
подбор режимов шлифования и полирования;
шлифовка ребер микромодулей и доведение их до заданных размеров;
установка прибора на заданный номинал и измерение величины сопротивления резисторов и емкости конденсаторов;
наладка станков автоматов и полуавтоматов для шлифования;
определение качества шлифованной поверхности
юстировка сопротивлений до номинала с точностью ±5-2% с помощью луча оптического квантового генератора;
подгонка в заданный номинал сложных малогабаритных резисторов с лужением и пайкой концов провода диаметром 0,02-0,03 мм и прецизионных конденсаторов;
подгонка номинала переменных объемных резисторов, керамических конденсаторов постоянной емкости методом шлифования (тонкое шлифование) и полирования;
подбор режимов шлифования и полирования;
шлифовка ребер микромодулей и доведение их до заданных размеров;
установка прибора на заданный номинал и измерение величины сопротивления резисторов и емкости конденсаторов;
наладка станков автоматов и полуавтоматов для шлифования;
определение качества шлифованной поверхности
Должен знать:
устройство и правила настройки станков для подгонки номиналов радиодеталей;
устройство специальных приспособлений, установок юстировки сопротивлений, инструментов и контрольно-измерительной аппаратуры;
правила установки деталей и инструмента;
способы шлифования; правила определения допусков на заданный номинал;
основные свойства материалов радиодеталей и токопроводящих слоев;
основы электротехники в пределах выполняемых работ
устройство и правила настройки станков для подгонки номиналов радиодеталей;
устройство специальных приспособлений, установок юстировки сопротивлений, инструментов и контрольно-измерительной аппаратуры;
правила установки деталей и инструмента;
способы шлифования; правила определения допусков на заданный номинал;
основные свойства материалов радиодеталей и токопроводящих слоев;
основы электротехники в пределах выполняемых работ
Примеры работ:
1) конденсаторы керамические, прецизионные - подгонка емкости в заданный номинал;
2) металлические валы для непроволочных резисторов – шлифование, доводка;
3) микромодули - шлифование торцов и доведение их до заданных размеров;
4) микросборки, залитые компаундом - шлифование граней и доведение их до заданных размеров;
5) пьезоэлементы толщиной 1 мм - ручная и машинная подгонка, измерение частоты с точностью 1х103;
6) резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью ±5-2 %
1) конденсаторы керамические, прецизионные - подгонка емкости в заданный номинал;
2) металлические валы для непроволочных резисторов – шлифование, доводка;
3) микромодули - шлифование торцов и доведение их до заданных размеров;
4) микросборки, залитые компаундом - шлифование граней и доведение их до заданных размеров;
5) пьезоэлементы толщиной 1 мм - ручная и машинная подгонка, измерение частоты с точностью 1х103;
6) резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью ±5-2 %
Примечание:
4-й разряд.
Характеристика работ:
юстировка сопротивлений до номинала с точностью ±2-1% с помощью луча оптического квантового генератора;
подгонка в заданный номинал точных малогабаритных радиодеталей со сваркой концов микропровода толщиной до 12 микрон и точностью подгонки до 0,005% под микроскопом с использованием измерительных приборов со степенью точности 0,005;
настройка микроскопа и измерительных приборов;
проверка величины сопротивления резистора и емкости конденсатора;
настройка и юстировка электронных приборов средней сложности в соответствии с техническими условиями;
электрическая проверка электронно-измерительных систем масс-спектрометров с использованием контрольно-измерительных приборов;
определение правильности сборки анализатора и его работоспособности в условиях высокого вакуума
юстировка сопротивлений до номинала с точностью ±2-1% с помощью луча оптического квантового генератора;
подгонка в заданный номинал точных малогабаритных радиодеталей со сваркой концов микропровода толщиной до 12 микрон и точностью подгонки до 0,005% под микроскопом с использованием измерительных приборов со степенью точности 0,005;
настройка микроскопа и измерительных приборов;
проверка величины сопротивления резистора и емкости конденсатора;
настройка и юстировка электронных приборов средней сложности в соответствии с техническими условиями;
электрическая проверка электронно-измерительных систем масс-спектрометров с использованием контрольно-измерительных приборов;
определение правильности сборки анализатора и его работоспособности в условиях высокого вакуума
Должен знать:
устройство, принцип действия, электрические схемы и режимы работы применяемого оборудования и приборов;
последовательность выполнения технологического процесса подгонки номинала радиодеталей;
устройство и способы проверки на точность обслуживаемых приборов, масс-спектрометров и течеискателей; принципиальные электрические и вакуумные схемы и схемы соединений;
назначение, принцип работы источников ионов с электронной бомбардировкой и приемных систем;
основы разделения ионов в масс-анализаторе;
назначение и принцип действия электронно-измерительных приборов, используемых в процессе юстировки и настройки;
процессы сорбции и десорбции на поверхностях, находящихся под высоким вакуумом;
основные законы движения заряженных частиц в условиях электрического и магнитного полей;
технологическую последовательность юстировки масс-спектрометров;
определение допустимых величин сопротивлений после подгонки;
основные законы электротехники в пределах выполняемой работы
устройство, принцип действия, электрические схемы и режимы работы применяемого оборудования и приборов;
последовательность выполнения технологического процесса подгонки номинала радиодеталей;
устройство и способы проверки на точность обслуживаемых приборов, масс-спектрометров и течеискателей; принципиальные электрические и вакуумные схемы и схемы соединений;
назначение, принцип работы источников ионов с электронной бомбардировкой и приемных систем;
основы разделения ионов в масс-анализаторе;
назначение и принцип действия электронно-измерительных приборов, используемых в процессе юстировки и настройки;
процессы сорбции и десорбции на поверхностях, находящихся под высоким вакуумом;
основные законы движения заряженных частиц в условиях электрического и магнитного полей;
технологическую последовательность юстировки масс-спектрометров;
определение допустимых величин сопротивлений после подгонки;
основные законы электротехники в пределах выполняемой работы
Примеры работ:
1) масс-спектрометры однополюсные - юстировка, проверка, настройка;
2) микросхемы - подгонка сопротивлений с точностью ±2-1%
3) резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью ±2-1%;
4) течеискатели масс-спектрометрические - юстировка, настройка, проверка
1) масс-спектрометры однополюсные - юстировка, проверка, настройка;
2) микросхемы - подгонка сопротивлений с точностью ±2-1%
3) резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью ±2-1%;
4) течеискатели масс-спектрометрические - юстировка, настройка, проверка
Примечание:
5-й разряд.
Характеристика работ:
юстировка и настройка электронных приборов и электронографов отечественного производства или зарубежных моделей;
юстировка резисторов сложных гибридных микросхем с точностью ±1-0,5% до номинала или соотношений двух и более резисторов с точностью ±5% и менее с помощью оптического квантового генератора;
электрическая проверка аналитической части масс-спектрометров;
уменьшение аберраций и дискриминационных эффектов;
ввод газов и паров жидкости в анализатор;
подготовка твердой пробы для анализа;
определение неисправностей в настраиваемых приборах и их устранение;
составление макетных схем для проверки управления работой узлов масс-спектрометров
юстировка и настройка электронных приборов и электронографов отечественного производства или зарубежных моделей;
юстировка резисторов сложных гибридных микросхем с точностью ±1-0,5% до номинала или соотношений двух и более резисторов с точностью ±5% и менее с помощью оптического квантового генератора;
электрическая проверка аналитической части масс-спектрометров;
уменьшение аберраций и дискриминационных эффектов;
ввод газов и паров жидкости в анализатор;
подготовка твердой пробы для анализа;
определение неисправностей в настраиваемых приборах и их устранение;
составление макетных схем для проверки управления работой узлов масс-спектрометров
Должен знать:
устройство, способы проверки на точность, принципиальные электронные, электрические и вакуумные схемы обслуживаемых приборов, методы определения разрешающей способности электронных микроскопов;
методы изготовления диафрагм;
способы получения эталонных электронограмм и определение константы прибора;
правила перенастройки микроскопов в различные режимы (дифракция, микродифракция, отражение и так далее);
устройство электроизмерительных приборов и приспособлений, применяемых при юстировке и настройке приборов;
принцип установления режимов работы систем ионообразования в процессе юстировки;
влияние рассеянных полей на фокусировку заряженных частиц;
основные правила по приготовлению объектов
Требуется среднее профессиональное образование.
устройство, способы проверки на точность, принципиальные электронные, электрические и вакуумные схемы обслуживаемых приборов, методы определения разрешающей способности электронных микроскопов;
методы изготовления диафрагм;
способы получения эталонных электронограмм и определение константы прибора;
правила перенастройки микроскопов в различные режимы (дифракция, микродифракция, отражение и так далее);
устройство электроизмерительных приборов и приспособлений, применяемых при юстировке и настройке приборов;
принцип установления режимов работы систем ионообразования в процессе юстировки;
влияние рассеянных полей на фокусировку заряженных частиц;
основные правила по приготовлению объектов
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ:
1) масс-спектрометры времяпролетные, промышленного контроля и хромато-эффузиомасс-спектрометры - настройка и юстировка;
2) микроскоп УЭМ-6Т электронный - настройка и юстировка;
3) микроскоп ЕF-4 (Германия) электронный - перестройка из режима «на просвет» в режим дифракции;
4) микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-4 - перестройка ЭОС в режим дифракции, устранение одного, двух видов аберраций; работы в режимах «вторичные или отраженные электроны», в режиме микроанализа;
5) рентгеновский электронно-оптический преобразователь - юстировка плоскостная и центровка
1) масс-спектрометры времяпролетные, промышленного контроля и хромато-эффузиомасс-спектрометры - настройка и юстировка;
2) микроскоп УЭМ-6Т электронный - настройка и юстировка;
3) микроскоп ЕF-4 (Германия) электронный - перестройка из режима «на просвет» в режим дифракции;
4) микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-4 - перестройка ЭОС в режим дифракции, устранение одного, двух видов аберраций; работы в режимах «вторичные или отраженные электроны», в режиме микроанализа;
5) рентгеновский электронно-оптический преобразователь - юстировка плоскостная и центровка
Примечание:
6-й разряд.
Характеристика работ:
юстировка и настройка масс-спектрометров, а также электронно-вычислительных приставок и масс-спектрометрических информационно-управляемых систем в соответствии с техническими инструкциями, программами лабораторий госнадзора, специальными инструкциями;
настройка и юстировка различных типов электронных микроскопов и электронографов отечественного и зарубежного производства;
юстировка и настройка опытных образцов электронных микроскопов, электронографов, масс- спектрометров и участие в их испытаниях;
разработка методик абсолютных и относительных измерений на масс-спектральных приборах;
работа по стыковке масс-спектральных приборов с комплексами электронно-вычислительных машин (ЭВМ), ввод программы и обеспечение режимов управления ЭВМ масс-спектрометрическими приборами
юстировка и настройка масс-спектрометров, а также электронно-вычислительных приставок и масс-спектрометрических информационно-управляемых систем в соответствии с техническими инструкциями, программами лабораторий госнадзора, специальными инструкциями;
настройка и юстировка различных типов электронных микроскопов и электронографов отечественного и зарубежного производства;
юстировка и настройка опытных образцов электронных микроскопов, электронографов, масс- спектрометров и участие в их испытаниях;
разработка методик абсолютных и относительных измерений на масс-спектральных приборах;
работа по стыковке масс-спектральных приборов с комплексами электронно-вычислительных машин (ЭВМ), ввод программы и обеспечение режимов управления ЭВМ масс-спектрометрическими приборами
Должен знать:
конструкцию, способы и правила проверки на точность масс-спектрометров и различных типов микроскопов, их электронные и электрические схемы;
все виды аберраций и их устранение;
способы, правила и последовательность юстировки серийных масс-спектрометров;
принципы установления режимов работы систем ионообразования, развертки спектромасс, детектирования заряженных частиц;
источники питания линз и пушки, их параметры и настройку;
критерии предельной разрешающей способности электронного микроскопа;
методы выявления неисправностей в настраиваемых приборах и способы их устранения
Требуется среднее профессиональное образование.
конструкцию, способы и правила проверки на точность масс-спектрометров и различных типов микроскопов, их электронные и электрические схемы;
все виды аберраций и их устранение;
способы, правила и последовательность юстировки серийных масс-спектрометров;
принципы установления режимов работы систем ионообразования, развертки спектромасс, детектирования заряженных частиц;
источники питания линз и пушки, их параметры и настройку;
критерии предельной разрешающей способности электронного микроскопа;
методы выявления неисправностей в настраиваемых приборах и способы их устранения
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ:
1) масс-спектрометры вторичной ионной эмиссии, квадрупольные, лазерные, одинарной и двойной фокусировки - настройка и юстировка;
2) микроанализаторы ХА-ЗА растровые (Япония) - настройка и юстировка;
3) микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-2, РЗИП-4 - настройка, проверка, юстировка, устранение всех видов аберраций; перестройка ЭОС в различные виды работ (отражение, дифракция, микродифракция и так далее);
4) микроскопы электронные - замена электронных ламп и опорных батарей в блоке стабилизатора высокого напряжения и последующая юстировка;
5) микроскопы РЭМП-4, МТР-6 - настройка источников питания и высоковольтных источников;
6) микроскопы растровые «Минисэм» (Япония), «Квикскан» (Япония) - настройка и юстировка
1) масс-спектрометры вторичной ионной эмиссии, квадрупольные, лазерные, одинарной и двойной фокусировки - настройка и юстировка;
2) микроанализаторы ХА-ЗА растровые (Япония) - настройка и юстировка;
3) микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-2, РЗИП-4 - настройка, проверка, юстировка, устранение всех видов аберраций; перестройка ЭОС в различные виды работ (отражение, дифракция, микродифракция и так далее);
4) микроскопы электронные - замена электронных ламп и опорных батарей в блоке стабилизатора высокого напряжения и последующая юстировка;
5) микроскопы РЭМП-4, МТР-6 - настройка источников питания и высоковольтных источников;
6) микроскопы растровые «Минисэм» (Япония), «Квикскан» (Япония) - настройка и юстировка
Примечание:
7-й разряд.
Характеристика работ:
юстировка и настройка цветных дисплейных комплексов с подбором, корректировкой и измерением параметров отклоняющей системы; изменение распределения магнитного поля в кинескопе на основе анализа деформации электронных триад;
измерение и вычисление по формулам параметров «геометрические искажения растра», координат цветности свечения экрана, яркостных характеристик комплекса;
работа с испытательным оборудованием, колориметром, яркомером, контрастомером
юстировка и настройка цветных дисплейных комплексов с подбором, корректировкой и измерением параметров отклоняющей системы; изменение распределения магнитного поля в кинескопе на основе анализа деформации электронных триад;
измерение и вычисление по формулам параметров «геометрические искажения растра», координат цветности свечения экрана, яркостных характеристик комплекса;
работа с испытательным оборудованием, колориметром, яркомером, контрастомером
Должен знать:
методы определения последовательности процессов испытания дисплейных комплексов;
правила вычисления электрических параметров и светотехнических характеристик при помощи формул, таблиц, графиков, монограмм
Требуется среднее профессиональное образование.
методы определения последовательности процессов испытания дисплейных комплексов;
правила вычисления электрических параметров и светотехнических характеристик при помощи формул, таблиц, графиков, монограмм
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ:
Примечание: