Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники
2-й разряд.
Характеристика работ:
измерение электрических параметров радиодеталей на контрольно-измерительных приборах, автоматах и полуавтоматах в серийном и массовом производствах;
измерение электрических параметров: индуктивности, омического сопротивления, емкости на заданный номинал;
измерение электрических параметров селеновых элементов на измерительных пультах;
периодическая проверка на приборах правильности рассортировки изделий по измеряемым параметрам;
электро- и термотренировка резисторов;
замена резисторов и конденсаторов с точностью 5-15 %;
самостоятельная настройка приборов по эталону на требуемые значения электрических и электромагнитных параметров и периодическая проверка правильности их показаний
измерение электрических параметров радиодеталей на контрольно-измерительных приборах, автоматах и полуавтоматах в серийном и массовом производствах;
измерение электрических параметров: индуктивности, омического сопротивления, емкости на заданный номинал;
измерение электрических параметров селеновых элементов на измерительных пультах;
периодическая проверка на приборах правильности рассортировки изделий по измеряемым параметрам;
электро- и термотренировка резисторов;
замена резисторов и конденсаторов с точностью 5-15 %;
самостоятельная настройка приборов по эталону на требуемые значения электрических и электромагнитных параметров и периодическая проверка правильности их показаний
Должен знать:
наименование, назначение и условия применения контрольно-измерительных аппаратуры и приборов;
методы проверки, настройки и регулирования измерительных приборов в процессе работы;
правила пользования шкалами и таблицами на погрешность прибора и на изменение емкости после прокаливания;
номинальные значения и допускаемые величины измеряемых параметров;
методы измерения емкости и подгонки заданной емкости;
величину частот, на которых производится измерение магнитных параметров;
основные понятия о переменном токе;
единицы измерения электрического тока;
пределы допусков для измерения по заданному классу точности
наименование, назначение и условия применения контрольно-измерительных аппаратуры и приборов;
методы проверки, настройки и регулирования измерительных приборов в процессе работы;
правила пользования шкалами и таблицами на погрешность прибора и на изменение емкости после прокаливания;
номинальные значения и допускаемые величины измеряемых параметров;
методы измерения емкости и подгонки заданной емкости;
величину частот, на которых производится измерение магнитных параметров;
основные понятия о переменном токе;
единицы измерения электрического тока;
пределы допусков для измерения по заданному классу точности
Примеры работ:
1) изделия типа ТОЛ, ТОТ, М-63 - измерение электрических параметров;
2) кольца альсиферовые - измерение индуктивности и магнитной проницаемости с рассортировкой по группам проницаемости;
3) конденсаторы оксидные - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь и тока утечки на приборах и автоматах;
4) контур промежуточной частоты (фильтр) - измерение параметров;
5) конденсаторы и блоки керамические герметизированные трубчатые - измерение стабильности на приборе;
6) магнитопроводы из электротехнической стали (толщина ленты 0,03 - 0,35 мм) - измерение электрических параметров и геометрических размеров;
7) микротрансформаторы - измерение сопротивления между обмотками;
8) пластины ферритовые - измерение электрических параметров на специальном стенде;
9) предохранители керамические - измерение электрических параметров;
10); резисторы постоянные и переменные - измерение электрических параметров;
11) радиолампы и кинескопы - проверка межэлектродной емкости и напряжений;
12) резисторы постоянные непроволочные - проверка шумомером ЭДС шумов;
13) стержни антенн - проверка на приборах добротности и электрической емкости;
14) секции и собранные конденсаторы: бумажные, слюдяные, стеклокерамические, пленочные - измерение емкости с рассортировкой по классам точности на приборах;
15) сердечники - измерение магнитных параметров, измерение добротности на омметре и индуктивности на ИЕЕВ или мосте УМ-3; проверка удельного сопротивления и напряженности среднего поля на приборе;
16) селеновые элементы серий «А», «Я», «Ф», «'Г» всех размеров - измерение прямого и обратного тока;
17) трансформаторы - проверка коэффициента трансформации, асимметрии обмоток, тока холостого хода, сопротивления обмоток и изоляции;
18) тороиды- измерение на омметре электрических параметров
1) изделия типа ТОЛ, ТОТ, М-63 - измерение электрических параметров;
2) кольца альсиферовые - измерение индуктивности и магнитной проницаемости с рассортировкой по группам проницаемости;
3) конденсаторы оксидные - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь и тока утечки на приборах и автоматах;
4) контур промежуточной частоты (фильтр) - измерение параметров;
5) конденсаторы и блоки керамические герметизированные трубчатые - измерение стабильности на приборе;
6) магнитопроводы из электротехнической стали (толщина ленты 0,03 - 0,35 мм) - измерение электрических параметров и геометрических размеров;
7) микротрансформаторы - измерение сопротивления между обмотками;
8) пластины ферритовые - измерение электрических параметров на специальном стенде;
9) предохранители керамические - измерение электрических параметров;
10); резисторы постоянные и переменные - измерение электрических параметров;
11) радиолампы и кинескопы - проверка межэлектродной емкости и напряжений;
12) резисторы постоянные непроволочные - проверка шумомером ЭДС шумов;
13) стержни антенн - проверка на приборах добротности и электрической емкости;
14) секции и собранные конденсаторы: бумажные, слюдяные, стеклокерамические, пленочные - измерение емкости с рассортировкой по классам точности на приборах;
15) сердечники - измерение магнитных параметров, измерение добротности на омметре и индуктивности на ИЕЕВ или мосте УМ-3; проверка удельного сопротивления и напряженности среднего поля на приборе;
16) селеновые элементы серий «А», «Я», «Ф», «'Г» всех размеров - измерение прямого и обратного тока;
17) трансформаторы - проверка коэффициента трансформации, асимметрии обмоток, тока холостого хода, сопротивления обмоток и изоляции;
18) тороиды- измерение на омметре электрических параметров
Примечание:
3-й разряд.
Характеристика работ:
измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и других электрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий на контрольно-измерительных приборах;
определение электрических параметров по нескольким шкалам прибора или по двум и более приборам;
измерение емкостных, обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов;
определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоев методом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающим методами;
определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристик и сопротивлений МДП и ПДП-структур, измерение интенсивности электролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов;
измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей;
испытание электрической прочности и сопротивления изоляции;
проверка отсортированных селеновых элементов на контрольно-проверочном стенде и купроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте;
пооперационный контроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контроль качества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность и величину сопротивления;
проверка микромодулей по картам сопротивлений и напряжений;
подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов;
травление и декапирование образцов в кислотах и травителях;
настройка приборов на измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров;
определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитной проницаемости, элементарные расчеты по формулам
измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и других электрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий на контрольно-измерительных приборах;
определение электрических параметров по нескольким шкалам прибора или по двум и более приборам;
измерение емкостных, обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов;
определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоев методом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающим методами;
определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристик и сопротивлений МДП и ПДП-структур, измерение интенсивности электролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов;
измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей;
испытание электрической прочности и сопротивления изоляции;
проверка отсортированных селеновых элементов на контрольно-проверочном стенде и купроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте;
пооперационный контроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контроль качества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность и величину сопротивления;
проверка микромодулей по картам сопротивлений и напряжений;
подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов;
травление и декапирование образцов в кислотах и травителях;
настройка приборов на измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров;
определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитной проницаемости, элементарные расчеты по формулам
Должен знать:
устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;
методику измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники;
свойства кислот и травителей;
правила травления, декапирования и промывки;
методы измерения толщины и типов проводимости;
принципиальные схемы проверки вольт-амперных характеристик и пробивных напряжений;
степень точности, пределы измерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов;
основные теоретические положения электро- и радиотехники
устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;
методику измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники;
свойства кислот и травителей;
правила травления, декапирования и промывки;
методы измерения толщины и типов проводимости;
принципиальные схемы проверки вольт-амперных характеристик и пробивных напряжений;
степень точности, пределы измерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов;
основные теоретические положения электро- и радиотехники
Примеры работ:
1) выпрямители селеновые из элементов серий «А», «Г», «Я», «Ф» всех размеров - измерение электропараметров;
2) двуокись кремния на кремниевой подложке - измерение плотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом при увеличении в 25-50 раз;
3) изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрических параметров;
4) конденсаторы - измерение электрических параметров;
5) кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные - измерение электрических и электромагнитных параметров;
6) микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициента трансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, тока намагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками, длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех;
7) многослойные печатные платы -;разметка топологии, замеры переходного сопротивления в отверстиях;
8) пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои - определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданного кристаллографического направления оптическим методом;
9) пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции - проверка статических параметров;
10) пластины полупроводниковые - определение толщины эпитаксиальных структур методом шарового шлифа;
11) платы электронных часов - проверка тока потребления, генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора;
12) резисторы - измерение и подгонка сопротивлений; измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массового производства с точностью до ±5 %;
13) секции металлобумажные, пленочные - измерение электрических параметров;
14) секции оксидных конденсаторов - измерение емкости на специальной установке;
15) селеновые элементы серий «А», «Я», «Ф», «Г» всех размеров - измерение всех электропараметров;
16) слои диэлектрические, поликристаллические, эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасных спектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящем ИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия;
17) стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскости поляризации в заданном диапазоне;
18) схемы интегральные - измерение электрофизических параметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС Ш степени интеграции;
19) трансформаторы и дроссели - измерение электрических параметров;
20) ферриты кольцевые марганец-цинковые - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь
1) выпрямители селеновые из элементов серий «А», «Г», «Я», «Ф» всех размеров - измерение электропараметров;
2) двуокись кремния на кремниевой подложке - измерение плотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом при увеличении в 25-50 раз;
3) изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрических параметров;
4) конденсаторы - измерение электрических параметров;
5) кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные - измерение электрических и электромагнитных параметров;
6) микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициента трансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, тока намагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками, длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех;
7) многослойные печатные платы -;разметка топологии, замеры переходного сопротивления в отверстиях;
8) пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои - определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданного кристаллографического направления оптическим методом;
9) пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции - проверка статических параметров;
10) пластины полупроводниковые - определение толщины эпитаксиальных структур методом шарового шлифа;
11) платы электронных часов - проверка тока потребления, генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора;
12) резисторы - измерение и подгонка сопротивлений; измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массового производства с точностью до ±5 %;
13) секции металлобумажные, пленочные - измерение электрических параметров;
14) секции оксидных конденсаторов - измерение емкости на специальной установке;
15) селеновые элементы серий «А», «Я», «Ф», «Г» всех размеров - измерение всех электропараметров;
16) слои диэлектрические, поликристаллические, эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасных спектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящем ИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия;
17) стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскости поляризации в заданном диапазоне;
18) схемы интегральные - измерение электрофизических параметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС Ш степени интеграции;
19) трансформаторы и дроссели - измерение электрических параметров;
20) ферриты кольцевые марганец-цинковые - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь
Примечание:
4-й разряд.
Характеристика работ:
измерение температурной стабильности, температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей;
измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность между выводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкости измеряемых конденсаторов;
измерение электрических и электромагнитных параметров матриц и дешифраторов;
измерение удельных сопротивлений полупроводниковых материалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивления поликристаллических слоев 4-зондовым методом;
определение скорости травления диэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей и удельных сопротивлений от температуры;
определение плотности дислокации структурных дефектов на металлографических микросхемах и однородности распределения плотности по эталонам;
контроль статических параметров, контроль тестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/мм2;
проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений и электрических параметров в нормальных условиях и при крайних значениях температур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ;
запитка напряжением различных микромодулей, установленных на стендах;
проверка по электрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновых выпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам для модуляторов и изделий специального назначения;
вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборах;
подготовка и настройка установок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталонным пластинам;
проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов в процессе работы
измерение температурной стабильности, температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей;
измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность между выводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкости измеряемых конденсаторов;
измерение электрических и электромагнитных параметров матриц и дешифраторов;
измерение удельных сопротивлений полупроводниковых материалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивления поликристаллических слоев 4-зондовым методом;
определение скорости травления диэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей и удельных сопротивлений от температуры;
определение плотности дислокации структурных дефектов на металлографических микросхемах и однородности распределения плотности по эталонам;
контроль статических параметров, контроль тестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/мм2;
проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений и электрических параметров в нормальных условиях и при крайних значениях температур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ;
запитка напряжением различных микромодулей, установленных на стендах;
проверка по электрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновых выпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам для модуляторов и изделий специального назначения;
вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборах;
подготовка и настройка установок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталонным пластинам;
проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов в процессе работы
Должен знать:
устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов;
устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;
электрические характеристики измеряемых изделий;
способы настройки, регулировки и устранения мелких неисправностей приборов и автоматов;
методы расчетов температурного коэффициента емкости;
методы расчетов измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки, холода;
основы теории электротехники и радиотехники;
назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структур и их свойства;
методы расчета величины тока смещения
устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов;
устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;
электрические характеристики измеряемых изделий;
способы настройки, регулировки и устранения мелких неисправностей приборов и автоматов;
методы расчетов температурного коэффициента емкости;
методы расчетов измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки, холода;
основы теории электротехники и радиотехники;
назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структур и их свойства;
методы расчета величины тока смещения
Примеры работ:
1) Блоки питания ЭКВМ - проверка по всем параметрам;
2) диски пьезокерамические - измерение и расчет пьезомодуля Д31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь;
3) изделия из ферритов - измерение импульсных температурных характеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах;
4) конденсаторы и резисторы - измерение температурных коэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение и вычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода;
5) матрицы - измерение по электромагнитным параметрам с плотностью от 100 до 200 чисел на 1 м2 с шагом 1-1,5 мм;
6) монокристаллический кремний и германий - измерение удельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации; изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляции проводимости в точечном контакте;
7) МПП с количеством точек до 3000 - проверка схемы на установке УКП;
8) Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти - измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы и дешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса и его амплитуды по показателям осциллографа;
9) пластины, квадраты, кольца - измерение и расчет электрических параметров;
10) пластины полупроводниковые - замер неплоскостности на установках типа 6019 с выводом значений на дисплей;
11) платы печатного монтажа - контроль на короткое замыкание омического сопротивления, целостности цепи тестором и на прозвоночной станции;
12) секции накопителей памяти - измерение и сортировка по электрическим параметрам;
13) селеновые выпрямители специального назначения - измерение электрических параметров;
14) слои и платы (МПП) - проверка на целостность цепей, на отсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции;
15) слои структур арсенида галлия - измерение толщины методом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете;
16) ферриты - измерение СВЧ характеристик на специальных стендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборе;
17) фоторезисторы - измерение ЭДС шумов;
18) электронные часы - настройка частоты генератора, проверка функциональных параметров
1) Блоки питания ЭКВМ - проверка по всем параметрам;
2) диски пьезокерамические - измерение и расчет пьезомодуля Д31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь;
3) изделия из ферритов - измерение импульсных температурных характеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах;
4) конденсаторы и резисторы - измерение температурных коэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение и вычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода;
5) матрицы - измерение по электромагнитным параметрам с плотностью от 100 до 200 чисел на 1 м2 с шагом 1-1,5 мм;
6) монокристаллический кремний и германий - измерение удельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации; изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляции проводимости в точечном контакте;
7) МПП с количеством точек до 3000 - проверка схемы на установке УКП;
8) Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти - измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы и дешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса и его амплитуды по показателям осциллографа;
9) пластины, квадраты, кольца - измерение и расчет электрических параметров;
10) пластины полупроводниковые - замер неплоскостности на установках типа 6019 с выводом значений на дисплей;
11) платы печатного монтажа - контроль на короткое замыкание омического сопротивления, целостности цепи тестором и на прозвоночной станции;
12) секции накопителей памяти - измерение и сортировка по электрическим параметрам;
13) селеновые выпрямители специального назначения - измерение электрических параметров;
14) слои и платы (МПП) - проверка на целостность цепей, на отсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции;
15) слои структур арсенида галлия - измерение толщины методом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете;
16) ферриты - измерение СВЧ характеристик на специальных стендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборе;
17) фоторезисторы - измерение ЭДС шумов;
18) электронные часы - настройка частоты генератора, проверка функциональных параметров
Примечание:
5-й разряд.
Характеристика работ:
измерение напряжения сигнала и напряжения помех, фазового сдвига, величины омического сопротивления и других электрических и электромагнитных параметров радиодеталей на специальных стендах, контрольно-измерительных приборах, осциллографах в условиях опытного и серийного производства;
снятие петли гистерезиса, определение коэффициента потерь на гистерезис, а также магнитных параметров по петле гистерезиса;
подсчет величины электромагнитной индукции и поля, необходимой для проверки изделий;
измерение удельных сопротивлений и толщины полупроводниковых материалов, эпитаксиальных, диэлектрических и поликристаллических слоев различными методами;
определение плотности поверхностных состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик;
определение концентрации, холловской подвижности и оптического поглощения;
измерение кристаллов дискретных приборов и микросхем со степенью интеграции до 1000 эл/мм2 на измерительном оборудовании на предмет разбраковки их по тестам, функционированию, статическим параметрам и динамическим свойствам;
проверка сложных схем микромодулей по электрическим параметрам;
проверка микромодулей специального назначения по картам сопротивлений, напряжений и электрическим характеристикам на соответствие требованиям ТУ в нормальных условиях и при крайних значениях температур;
устранение неисправностей в обслуживаемом контрольно-измерительном оборудовании;
подготовка системы к работе, ввод рабочих программ;
работа на измерительных установках с применением ЭВМ;
выбор режима работы;
документирование результатов контроля, расчет требуемых характеристик
измерение напряжения сигнала и напряжения помех, фазового сдвига, величины омического сопротивления и других электрических и электромагнитных параметров радиодеталей на специальных стендах, контрольно-измерительных приборах, осциллографах в условиях опытного и серийного производства;
снятие петли гистерезиса, определение коэффициента потерь на гистерезис, а также магнитных параметров по петле гистерезиса;
подсчет величины электромагнитной индукции и поля, необходимой для проверки изделий;
измерение удельных сопротивлений и толщины полупроводниковых материалов, эпитаксиальных, диэлектрических и поликристаллических слоев различными методами;
определение плотности поверхностных состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик;
определение концентрации, холловской подвижности и оптического поглощения;
измерение кристаллов дискретных приборов и микросхем со степенью интеграции до 1000 эл/мм2 на измерительном оборудовании на предмет разбраковки их по тестам, функционированию, статическим параметрам и динамическим свойствам;
проверка сложных схем микромодулей по электрическим параметрам;
проверка микромодулей специального назначения по картам сопротивлений, напряжений и электрическим характеристикам на соответствие требованиям ТУ в нормальных условиях и при крайних значениях температур;
устранение неисправностей в обслуживаемом контрольно-измерительном оборудовании;
подготовка системы к работе, ввод рабочих программ;
работа на измерительных установках с применением ЭВМ;
выбор режима работы;
документирование результатов контроля, расчет требуемых характеристик
Должен знать:
устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность измерительных установок;
правила проверки и регулирования измерительной аппаратуры;
узлы и пульты управления электронно-вычислительной техникой;
правила эксплуатации системы в различных режимах работы;
правила и способы тестирования, ввода программы с перфоленты и с пульта, значение систем исчисления, применяемых в вычислительной технике;
методику и способы измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий;
способы вычисления по формулам величины магнитного поля и индукции;
способы замера расчетных величин по приборам;
правила подключения приборов к источникам питания;
способы устранения неисправностей;
основы электро- и радиотехники
Требуется среднее профессиональное образование.
устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность измерительных установок;
правила проверки и регулирования измерительной аппаратуры;
узлы и пульты управления электронно-вычислительной техникой;
правила эксплуатации системы в различных режимах работы;
правила и способы тестирования, ввода программы с перфоленты и с пульта, значение систем исчисления, применяемых в вычислительной технике;
методику и способы измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий;
способы вычисления по формулам величины магнитного поля и индукции;
способы замера расчетных величин по приборам;
правила подключения приборов к источникам питания;
способы устранения неисправностей;
основы электро- и радиотехники
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ:
1) блоки питания для вычислительных машин типа «Минск» - проверка по всем параметрам;
2) дешифраторы для кубов памяти - определение фазового сдвига, измерение амплитудного сигнала на стендах и приборах;
3) диски, призмы, кольца пьезокерамические - измерение пьезомодуля Д31, емкости и тангенса диэлектрических потерь на измерительном комплексе «Параметр»;
4) кольца ферритовые с ППГ - измерение электромагнитных параметров;
5) конденсаторы, резисторы, микросхемы - измерение и разбраковка по основным параметрам;
6) монокристаллический кремний и германий - изготовление образцов и нанесение омических контактов для измерения коэффициента Холла и удельной электропроводимости; контроль линий скольжения; определение времени жизни методом подвижного светового зонда;
7) МПП с количеством точек свыше 3000 - проверка схемы на установке УКПМ-2; нахождение в схеме места дефектов согласно протоколу автоматизированного контроля;
8) носители заряда - определение концентраций и подвижности в интервале температур методом эффекта Холла;
9) пластины кремниевые полированные - выявление и контроль исчезающих и неисчезающих рисок;
10) пластины с кристаллами ИМС и дискретных структур транзисторов - разбраковка кристаллов по группам с использованием дисплея ЭВМ;
11) пластины опытные и кольца - измерение электромагнитных параметров;
12) пластины и кольца с прямоугольной петлей гистерезиса - снятие характеристик, измерение и расчет электрических и электромагнитных параметров;
13) пластины полупроводниковые - определение распределения концентрации и подвижности носителей тока по толщине активного слоя эпитаксиальных структур;
14) резисторы и конденсаторы мощные - расчет нагрузок, проведение испытаний на высоковольтных высокочастотных установках под нагрузкой; измерение электрических характеристик до и после испытания;
15) слои гетероструктурные на арсениде галлия - измерение интенсивности рекомбинационного излучения;
16) структуры эпитаксиальные - проведение комплекса измерений на соответствие техническим уровням; измерение распределения удельного сопротивления по глубине эпитаксиального слоя; определение удельного сопротивления эпитаксиального слоя, имеющего одинаковый с подложкой тип проводимости
1) блоки питания для вычислительных машин типа «Минск» - проверка по всем параметрам;
2) дешифраторы для кубов памяти - определение фазового сдвига, измерение амплитудного сигнала на стендах и приборах;
3) диски, призмы, кольца пьезокерамические - измерение пьезомодуля Д31, емкости и тангенса диэлектрических потерь на измерительном комплексе «Параметр»;
4) кольца ферритовые с ППГ - измерение электромагнитных параметров;
5) конденсаторы, резисторы, микросхемы - измерение и разбраковка по основным параметрам;
6) монокристаллический кремний и германий - изготовление образцов и нанесение омических контактов для измерения коэффициента Холла и удельной электропроводимости; контроль линий скольжения; определение времени жизни методом подвижного светового зонда;
7) МПП с количеством точек свыше 3000 - проверка схемы на установке УКПМ-2; нахождение в схеме места дефектов согласно протоколу автоматизированного контроля;
8) носители заряда - определение концентраций и подвижности в интервале температур методом эффекта Холла;
9) пластины кремниевые полированные - выявление и контроль исчезающих и неисчезающих рисок;
10) пластины с кристаллами ИМС и дискретных структур транзисторов - разбраковка кристаллов по группам с использованием дисплея ЭВМ;
11) пластины опытные и кольца - измерение электромагнитных параметров;
12) пластины и кольца с прямоугольной петлей гистерезиса - снятие характеристик, измерение и расчет электрических и электромагнитных параметров;
13) пластины полупроводниковые - определение распределения концентрации и подвижности носителей тока по толщине активного слоя эпитаксиальных структур;
14) резисторы и конденсаторы мощные - расчет нагрузок, проведение испытаний на высоковольтных высокочастотных установках под нагрузкой; измерение электрических характеристик до и после испытания;
15) слои гетероструктурные на арсениде галлия - измерение интенсивности рекомбинационного излучения;
16) структуры эпитаксиальные - проведение комплекса измерений на соответствие техническим уровням; измерение распределения удельного сопротивления по глубине эпитаксиального слоя; определение удельного сопротивления эпитаксиального слоя, имеющего одинаковый с подложкой тип проводимости
Примечание: